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半導(dǎo)體測試探針臺(tái)是一款適用于4-6英寸晶圓測試的基本型探針臺(tái)，結(jié)構(gòu)緊湊，配置豐富，可搭配中體式或視頻顯微鏡，實(shí)用且性價(jià)比高，非常適合高校、研究機(jī)構(gòu)、半導(dǎo)體工廠等實(shí)驗(yàn)室的半導(dǎo)體測試應(yīng)用，模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，支持后期靈活擴(kuò)展升級。

半導(dǎo)體/集成電路/微型真空探針臺(tái) KT-Z165M4LT精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為φ30，臺(tái)面最高可升溫到最高400℃。

自主真空探針臺(tái)-性價(jià)比高我選鄭科探精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為φ30，臺(tái)面最高可升溫到最高400℃。臺(tái)面四周裝有微型3軸可移動(dòng)鎢鋼探針，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。

微型真空探針臺(tái)-探針座等實(shí)驗(yàn)室方案精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為φ30，臺(tái)面最高可升溫到最高400℃。臺(tái)面四周裝有微型3軸可移動(dòng)鎢鋼探針，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。

微型真空探針臺(tái)測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為φ30，臺(tái)面最高可升溫到最高400℃。臺(tái)面四周裝有微型3軸可移動(dòng)鎢鋼探針，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。